x射線發(fā)生裝置結(jié)構(gòu)組成:
(1)X射線發(fā)生器 —— 產(chǎn)生X射線的裝置;X射線發(fā)生器由X射線管、高壓發(fā)生器、管壓和管流穩(wěn)定電路以及各種保護(hù)電路等部分組成。
(2)測角儀 —— 測量角度2θ的裝置;測角儀是X射線衍射儀測量中部分,用來測量衍射角。
(3)X射線探測器 —— 測量X射線強(qiáng)度的計(jì)數(shù)裝置;計(jì)數(shù)器的主要功能是將X射線光子的能量轉(zhuǎn)換成電脈沖信號。通常用于X射線衍射儀的輻射探測器有正比計(jì)數(shù)器、閃爍計(jì)數(shù)器和位敏正比探測器。
(4)X射線系統(tǒng)控制裝置 —— 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和各種電氣系統(tǒng)、保護(hù)系統(tǒng)。
x射線發(fā)生裝置解決哪些問題?
(1)當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成,x射線發(fā)生裝置多少錢,需區(qū)分各成分所占比例,可使用XRD物相鑒定功能,分析各結(jié)晶相的比例。
(2)很多材料的性能由結(jié)晶程度決定,可使用XRD結(jié)晶度分析,確定材料的結(jié)晶程度。
(3)新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù),使用XRD可快捷測試出點(diǎn)陣參數(shù),為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。
(4)產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象,可能涉及微觀應(yīng)力方面影響,使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力。
(5)納米材料由于顆粒細(xì)小,x射線發(fā)生裝置,極易形成團(tuán)粒,x射線發(fā)生裝置價格,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。
x射線發(fā)生裝置基本原理
使用的X射線源是X射線管,這是一種裝有陰陽極的真空封閉管,在管子兩極間加上高電壓,陰極就會發(fā)射出高速電子流撞擊金屬陽極靶,從而產(chǎn)生X射線。當(dāng)X射線照射到晶體物質(zhì)上,由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射,x射線發(fā)生裝置報(bào)價,衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度,與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)不同的晶體物質(zhì)具有自己的衍射樣,這就是X射線衍射的基本原理。
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