x射線發(fā)生裝置使用范圍:
金屬材料:半導(dǎo)體材料、合金、超導(dǎo)材料、粉末冶金材料;無機材料:陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃;復(fù)合材料:碳纖維、纖維大分子、工業(yè)廢棄物;有機材料:品、工程塑料、各種樹脂等。利用波長很短的電磁波能穿透一定厚度的物質(zhì),并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機乳膠感、氣體電離,測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,的進(jìn)行物相分析,定性分析,定量分析。
x射線發(fā)生裝置角度校準(zhǔn)的光學(xué)新方法
目前x射線發(fā)生裝置的角度檢定和校準(zhǔn)測試主要依據(jù)JJG 629—1989《多晶X射線衍射儀檢定規(guī)程》和JB/T 9400—2010《X射線衍射儀技術(shù)條件》等技術(shù)文件,具體方法是采用光學(xué)經(jīng)緯儀或多面棱體等進(jìn)行測試,該測量方法實際應(yīng)用中存在一定難度,其次測量間隔較大,不能很好反映真實的角度誤差規(guī)律.為此,提出了利用θ角和2θ角同軸并可獨立運動的特點,中能x射線發(fā)生裝置報價,組合采用光電自準(zhǔn)直儀和小角度激光干涉儀等儀器,設(shè)計了一種新的XRD的角度校準(zhǔn)方法,它能夠自動快速地連續(xù)測量角度,取k=2時,中能x射線發(fā)生裝置多少錢,擴展不確定度約1.2″.使用該方法測試能夠得到θ和2θ軸的誤差數(shù)據(jù),可用于修正XRD測角誤差,提高XRD測試精度.該方法也適用于同步輻射等大型衍射系統(tǒng)等其他需要角度校準(zhǔn)的情況.
x射線發(fā)生裝置解決哪些問題?
(1)當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成,需區(qū)分各成分所占比例,可使用XRD物相鑒定功能,分析各結(jié)晶相的比例。
(2)很多材料的性能由結(jié)晶程度決定,可使用XRD結(jié)晶度分析,中能x射線發(fā)生裝置哪家好,確定材料的結(jié)晶程度。
(3)新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù),中能x射線發(fā)生裝置,使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù),為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗證指標(biāo)。
(4)產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象,可能涉及微觀應(yīng)力方面影響,使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力。
(5)納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。
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